RTS-9型雙電測四探針測試儀

簡單描述
RTS-9型雙電測四探針測試儀采用了四探針雙電測組合(亦稱雙位組合)測量新技術,將范德堡測量方法推廣應用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換，在計算機控制下進行兩次電測量，能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響。
更新時間： 2017-10-11
產品型號： RTS-9

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詳細介紹

RTS-9型雙電測四探針測試儀采用了四探針雙電測組合(亦稱雙位組合)測量新技術,將范德堡測量方法推廣應用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換，在計算機控制下進行兩次電測量，能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響。因而每次測量不必知道探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置。由于每次測量都是對幾何因素的影響進行動態的自動修正，因此顯著降低了幾何因素影響，從而提高了測量結果的準確度。所有這些，用目前大量使用的常規四探針測量方法所生產的儀器是無法實現的。

RTS-9雙電測四探針軟件測試系統是一個運行在計算機上擁有友好測試界面的用戶程序。測試程序在計算機與RTS-9型四探針測試儀連接的狀態下，通過計算機的并口實現通訊。
測試程序控制四探針測試儀進行測量并實時采集兩次組合模式下的測試數據，把采集到的數據在計算機中加以分析，然后把測試數據以表格，圖形直觀地記錄、顯示出來。用戶可對采集到的數據在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看，還可以把采集到的數據輸出到Excel中，讓用戶對數據進行各種數據分析

技術參數：

測量范圍(wei)	電阻率：10^-5～10⁵ Ω.cm(可擴展)；方塊電阻：10^-4～10⁶ Ω/□(可擴展)；電導率：10^-5～10⁵ s/cm；電阻：10^-5～10⁵ Ω；
可(ke)測晶片(pian)厚度	≤3mm
可測(ce)晶(jing)片直徑	140mmX150mm(配S-2A型測試臺)； 200mmX200mm(配S-2B型測試臺)； 400mmX500mm(配S-2C型測試臺)；
恒流源	電流(liu)量程分為1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA六(liu)檔(dang)(dang)，各(ge)檔(dang)(dang)電流(liu)連續可調(diao)
數字電壓表	量程及表示形式：000.00～199.99mV；　　　　分辨力：10μV；輸入阻抗：>1000MΩ；精度：±0.1% ；顯示：四位半紅色發光管數字顯示；極性、超量程自動顯示；
四探針探頭基本指標	間距：1±0.01mm；針間絕緣電阻：≥1000MΩ；機械游移率：≤0.3%；探針：碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm；探針壓力：5～16 牛頓(總力)；
四探針探頭應用參數(shu)	(見探頭附帶(dai)的合格證)
模擬電阻測量相對誤差 ( 按JJG508-87進行)	0.01Ω、0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω、1000Ω、10000Ω≤0.3%±1字
整機測量(liang)zui大相對誤差	(用硅標(biao)樣片：0.01-180Ω.cm測試)≤±4%
整機測量標準不確定度	≤4%
測試標準	采(cai)用雙(shuang)電測(ce)(ce)(ce)(ce)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)標(biao)準(zhun)，通(tong)過RTS-9雙(shuang)電測(ce)(ce)(ce)(ce)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)軟件(jian)控制(zhi)四(si)探針(zhen)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)儀(yi)進(jin)行測(ce)(ce)(ce)(ce)量并實時采(cai)集兩次(ci)組(zu)合(he)模式下的電壓(ya)值(zhi)，然后根(gen)據雙(shuang)電測(ce)(ce)(ce)(ce)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)原理(li)公式計(ji)算出電阻值(zhi)。儀(yi)器主(zhu)機也可(ke)兼容RTS-8四(si)探針(zhen)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)軟件(jian)實現單電測(ce)(ce)(ce)(ce)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)標(biao)準(zhun)，兩套軟件(jian)可(ke)同時使用。
軟件功能	軟件(jian)可(ke)(ke)記錄、保存、打印每一點(dian)的(de)測(ce)試(shi)數據，并統(tong)計分(fen)析測(ce)試(shi)數據zui大(da)值(zhi)、zui小值(zhi)、平均值(zhi)、zui大(da)百分(fen)變(bian)化、平均百分(fen)變(bian)化、徑向(xiang)不均勻度、并將數據生成直(zhi)方圖，也可(ke)(ke)把測(ce)試(shi)數據輸(shu)出到Excel中，對數據進行各種數據分(fen)析。軟件(jian)還可(ke)(ke)選擇(ze)自(zi)動測(ce)量(liang)功能(neng)，根據樣品(pin)電阻大(da)小自(zi)動選擇(ze)適合電流量(liang)程檔測(ce)試(shi)。
計算機(ji)通訊接(jie)口(kou)	并口，高速并行(xing)采集數據。
標準使用環境	溫度：23±2℃；相對濕度：≤65%；無高頻干擾；無強光直射；

配(pei)置	四探(tan)針測(ce)試(shi)(shi)儀主(zhu)機、S-2A型探(tan)針臺、FT-201四探(tan)針探(tan)頭(tou)、測(ce)試(shi)(shi)軟件(含測(ce)控模塊)	23000/套
配置	四(si)(si)探針(zhen)測試儀(yi)主機、S-2A型探針(zhen)臺、FT-201四(si)(si)探針(zhen)探頭、臺式電(dian)腦	28000/套
配置	四(si)探針測試儀主機、S-2A型探針臺、FT-201四(si)探針探頭、IBM筆(bi)記本電(dian)腦	38000/套(tao)
備注	用戶可按(an)實(shi)際需要(yao)選擇配(pei)置(zhi)(zhi)，電腦(nao)可按(an)用戶要(yao)求以市場價配(pei)置(zhi)(zhi)或自行購(gou)置(zhi)(zhi)安裝測試(shi)軟(ruan)件(jian)即可