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midi LOGGER GL220采用小型(xing)、可(ke)放心測定(ding)的(de)(de)(de)全頻道絕緣(yuan)輸入(ru)(ru)方(fang)式(shi)。可(ke)進(jin)行電(dian)壓(ya)/溫度/濕度/脈沖/邏輯的(de)(de)(de)多(duo)元(yuan)輸入(ru)(ru)。 根據客(ke)戶要求提供(gong)多(duo)種高速電(dian)壓(ya)測定(ding)，可(ke)測定(ding)范(fan)圍擴展(zhan)至10ms取樣(yang)（電(dian)壓(ya)范(fan)圍1ch輸入(ru)(ru)時）。 此外，內置存(cun)儲(chu)器中搭載2GB大(da)容量閃(shan)存(cun)，無需使用外部存(cun)儲(chu)媒體即可(ke)實(shi)現(xian)長時間(jian)的(de)(de)(de)數據収錄(lu)。 GL220提高了可(ke)對應多(duo)樣(yang)化測量用途的(de)(de)(de)功能性與(yu)操作(zuo)性,從研究開發到生產線現(xian)場，可(ke)1人1臺進(jin)行使

&采(cai)用(yong)WINDOWS操作(zuo)(zuo)(zuo)(zuo)系(xi)(xi)統(tong)，操作(zuo)(zuo)(zuo)(zuo)更(geng)方便(bian)。 &智能化、數字化、全中文操作(zuo)(zuo)(zuo)(zuo)菜(cai)單、準(zhun)(zhun)確測量(liang)、操作(zuo)(zuo)(zuo)(zuo)簡(jian)便(bian)； 　&重量(liang)輕，手持設(she)計，單人操作(zuo)(zuo)(zuo)(zuo)，全程自動測量(liang)； &大(da)容量(liang)存儲(chu)，歷史數據(ju)自動匯集，隨時(shi)查(cha)詢； &測試(shi)(shi)夾（棒(bang)）可選，適應各種電(dian)池檢(jian)測 &4.3英寸(cun)LCD顯示(shi)，中文界(jie)面，觸屏操作(zuo)(zuo)(zuo)(zuo)，使用(yong)簡(jian)便(bian)； &直(zhi)流大(da)電(dian)流測試(shi)(shi)，抗干擾，測試(shi)(shi)更(geng)準(zhun)(zhun)確； &USB接(jie)口(kou)數據(ju)拷貝、INTERNET接(jie)口(kou)遠程系(xi)(xi)統(tong)升級

SDY-5型(xing)雙電測(ce)四探(tan)針(zhen)測(ce)試(shi)儀采用(yong)了(le)四探(tan)針(zhen)雙位(wei)組合測(ce)量(liang)(liang)(liang)技術,利用(yong)電流(liu)探(tan)針(zhen)、電壓(ya)探(tan)針(zhen)的(de)(de)變換，進行兩(liang)次電測(ce)量(liang)(liang)(liang)，能自動消除樣(yang)品幾(ji)何尺寸(cun)、邊(bian)界效(xiao)應以及(ji)探(tan)針(zhen)不等距和機械游(you)移等因素對測(ce)量(liang)(liang)(liang)結(jie)果的(de)(de)影(ying)響，從而提(ti)高了(le)測(ce)量(liang)(liang)(liang)結(jie)果的(de)(de)準(zhun)確度

RTS-5型雙電(dian)測四(si)探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)測試儀采(cai)用(yong)了四(si)探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)雙電(dian)測組(zu)合(亦稱(cheng)雙位組(zu)合)測量新技術,將范德(de)堡測量方法推廣應用(yong)到直線四(si)探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)上,利用(yong)電(dian)流探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)、電(dian)壓(ya)探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)的(de)變換，在計算(suan)機控制下進行兩次電(dian)測量，能自(zi)動消除樣品(pin)幾何尺(chi)寸(cun)、邊界效應以及探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)不等距(ju)和機械游移等因素對測量結(jie)果的(de)影響。

RTS-9型雙電(dian)測(ce)(ce)四(si)探(tan)針測(ce)(ce)試儀采用了(le)四(si)探(tan)針雙電(dian)測(ce)(ce)組(zu)(zu)合(亦稱雙位組(zu)(zu)合)測(ce)(ce)量新技術,將范德(de)堡測(ce)(ce)量方(fang)法推廣應用到直線四(si)探(tan)針上,利用電(dian)流(liu)探(tan)針、電(dian)壓探(tan)針的變換(huan)，在計(ji)算機(ji)控制下進行(xing)兩次(ci)電(dian)測(ce)(ce)量，能(neng)自動消除樣品幾何(he)尺(chi)寸、邊(bian)界效應以及探(tan)針不等(deng)(deng)距和機(ji)械游移等(deng)(deng)因素(su)對測(ce)(ce)量結果的影響。

RTS-3型手持式四探針(zhen)(zhen)測試儀是運用(yong)四探針(zhen)(zhen)測量原理的(de)多用(yong)途綜合測量設備(bei)。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標(biao)準(zhun)并參考(kao)美(mei)國 A.S.T.M 標(biao)準(zhun)而(er)設計的(de)，于(yu)測量硅晶塊、晶片電(dian)阻率及擴散(san)層、外延(yan)層、ITO導(dao)電(dian)箔膜、導(dao)電(dian)橡(xiang)膠等材(cai)料方塊電(dian)阻的(de)小型儀器。

RTS-2/RTS-2A型(xing)便攜(xie)式四探(tan)針測(ce)試儀(yi)是運用四探(tan)針測(ce)量原理(li)的(de)多用途綜(zong)合(he)測(ce)量設備。該儀(yi)器按照單(dan)晶硅(gui)物(wu)理(li)測(ce)試方法國家標準并參考(kao)美國 A.S.T.M 標準而(er)設計的(de)，于測(ce)量硅(gui)晶塊、晶片電阻率及(ji)擴(kuo)散(san)層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠(jiao)等(deng)材料方塊電阻的(de)小型(xing)儀(yi)器。

SDY-4型四探針測試(shi)(shi)儀(yi)是根據單晶硅(gui)物理測試(shi)(shi)方法國(guo)家標準并參(can)考(kao)美國(guo)A.S.T.M標準設計的半導體材(cai)料電阻率及(ji)方塊電阻(薄(bo)層電阻)測試(shi)(shi)儀(yi)器.

可(ke)連接(jie)電(dian)腦使用(yong)也可(ke)以(yi)不連接(jie)電(dian)腦使用(yong)，連接(jie)電(dian)腦使用(yong)帶自動測(ce)(ce)量(liang)功能，自動選擇適合(he)樣品測(ce)(ce)試電(dian)流量(liang)程； 高速并口(kou)通訊接(jie)口(kou)，連接(jie)電(dian)腦使用(yong)時采集數(shu)據到(dao)電(dian)腦的時間只需要1.5秒(miao)；