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RTS-4型數字式四探針測試儀

  • 簡單描述
  • 可連接電腦使用也可以不連接電腦使用,連接電腦使用帶自動測量功能,自動選擇適合樣品測試電流量程;
    高速并口通訊接口,連接電腦使用時采集數據到電腦的時間只需要1.5秒;
  • 更新時間:  2017-10-11
  • 產品型號:  RTS-4
詳細介紹

RTS-4型數字式四探針測試儀

可連接電腦使用也可以不連接電腦使用,連接電腦使用帶自動測量功能,自動選擇適合樣品測試電流量程;
高速并口通訊接口,連接電腦使用時采集數據到電腦的時間只需要1.5秒;

RTS-4型數字式四探針測試儀是運用四探針測(ce)量原理的(de)多用途(tu)綜合測(ce)量設備。該儀器(qi)按照單晶硅物理測(ce)試方(fang)(fang)法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設計的(de),于測(ce)試半導體(ti)材料電阻(zu)率(lv)及(ji)方(fang)(fang)塊電阻(zu)(薄(bo)層電阻(zu))的(de)儀器(qi)。
    儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成,測量數據既可由主機直接顯示,亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析,然后以表格,圖形方式統計分析顯示測試結果。
    儀器采用(yong)了電子技術(shu)進(jin)行(xing)設計、裝配(pei)。具有功能(neng)選擇直觀、測量取數快(kuai)、精度高、測量范(fan)圍寬、穩(wen)定性好、結構緊湊、易操作(zuo)等(deng)特(te)點。
    本儀器適用于(yu)半(ban)導體材(cai)料廠、半(ban)導體器件廠、科(ke)研單位、高等(deng)院(yuan)校對半(ban)導體材(cai)料的電(dian)阻性能測試(shi)。

 RTS-4型四探針軟件測試系統是一個運行(xing)(xing)在計算機(ji)上擁有友好(hao)測試(shi)界面的用戶程序,通(tong)過此測試(shi)程序輔(fu)助使用戶簡便地進行(xing)(xing)各項測試(shi)及獲得(de)測試(shi)數據并對測試(shi)數據進行(xing)(xing)統計分析。
    測(ce)試程序(xu)控制四(si)探針(zhen)測(ce)試儀進行(xing)(xing)測(ce)量并采(cai)(cai)集(ji)(ji)測(ce)試數(shu)(shu)(shu)據(ju),把采(cai)(cai)集(ji)(ji)到(dao)的(de)數(shu)(shu)(shu)據(ju)在計算機中加以(yi)分(fen)析,然(ran)后把測(ce)試數(shu)(shu)(shu)據(ju)以(yi)表格,圖形直觀地記錄、顯示出來。用戶(hu)可對采(cai)(cai)集(ji)(ji)到(dao)的(de)數(shu)(shu)(shu)據(ju)在電腦中保存或者打印(yin)以(yi)備(bei)日(ri)后參考和(he)查看,還可以(yi)把采(cai)(cai)集(ji)(ji)到(dao)的(de)數(shu)(shu)(shu)據(ju)輸出到(dao)Excel中,讓用戶(hu)對數(shu)(shu)(shu)據(ju)進行(xing)(xing)各種數(shu)(shu)(shu)據(ju)分(fen)析

技(ji)術(shu)參數(shu):
 

 測量范圍(wei)

 電阻率:0.0001~2000Ω.cm(可擴展);  
 方塊電阻:0.001~20000Ω/□(可擴展); 
 電導率:0.0005~10000 s/cm; 
 電阻:0.0001~2000Ω.cm; 

可測(ce)晶片直徑

 140mmX150mm(配S-2A型測試臺);
 200mmX200mm(配S-2B型測試臺);
 400mmX500mm(配S-2C型測試臺);

恒流源(yuan)

 電(dian)流量程(cheng)分為0.1mA、1mA、10mA、100mA四檔,各(ge)檔電(dian)流連續可調

數字電壓(ya)表

 量程及表示形式:000.00~199.99mV;    
 分辨力:10μV;
 輸入阻抗:>1000MΩ;
 精度:±0.1% ;
 顯示:四位半紅色發光管數字顯示;極性、超量程自動顯示;

四探(tan)針探(tan)頭基本指(zhi)標

 間距:1±0.01mm;
 針間絕緣電阻:≥1000MΩ; 
 機械游移率:≤0.3%;
 探針:碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm;
 探針壓力:5~16 牛頓(總力);

四探針探頭應用參數

 (見探頭(tou)附帶的合格證)

模擬電阻測量相對誤差
( 按JJG508-87進行)

 0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω小于(yu)(yu)等于(yu)(yu)0.3%±1字

整(zheng)機測量(liang)zui大相對誤差

(用硅標樣片:0.01-180Ω.cm測試)≤±5%

整機測量標準不確定度(du)

 ≤5%

測試模式

 可連接(jie)電(dian)腦(nao)測試也可不連接(jie)電(dian)腦(nao)測試

軟件功(gong)能(選(xuan)配)

軟件(jian)可(ke)記錄(lu)、保存、打(da)印每一點的(de)測(ce)試數據(ju)(ju)(ju),并(bing)統計分析測(ce)試數據(ju)(ju)(ju)zui大值、zui小(xiao)值、平均值、zui大百分變(bian)化(hua)、平均百分變(bian)化(hua)、徑向不(bu)均勻度、并(bing)將(jiang)數據(ju)(ju)(ju)生成直方圖,也可(ke)把測(ce)試數據(ju)(ju)(ju)輸出到Excel中(zhong),對數據(ju)(ju)(ju)進行各種數據(ju)(ju)(ju)分析。軟件(jian)還可(ke)選擇自(zi)動(dong)測(ce)量(liang)功能,根據(ju)(ju)(ju)樣品電(dian)阻大小(xiao)自(zi)動(dong)選擇適合電(dian)流量(liang)程檔(dang)測(ce)試。

計算(suan)機通訊接口

并口,高速(su)并行采集(ji)數據,連(lian)接電腦(nao)使用時采集(ji)數據到電腦(nao)的時間只(zhi)需要(yao)1.5秒

標準使用環境

 溫度:23±2℃;
 相對濕度:≤65%;
 無高頻干擾;
 無強光直射;
配置

四探針(zhen)(zhen)測試儀主機、S-2B型探針(zhen)(zhen)臺、FT-201四探針(zhen)(zhen)探頭(tou)

13000/套
配置

四探(tan)針(zhen)測試(shi)儀主機、S-2B型探(tan)針(zhen)臺、FT-201四探(tan)針(zhen)探(tan)頭、測試(shi)軟(ruan)件(含測控模塊)

17000/套
配置

四探針(zhen)測試儀主機、S-2B型探針(zhen)臺、FT-201四探針(zhen)探頭(tou)、臺式電腦

22000/套
備注

用(yong)戶(hu)可(ke)按實際需(xu)要選擇配(pei)置,電腦可(ke)按用(yong)戶(hu)要求以市場(chang)價(jia)配(pei)置或自(zi)行購置安裝測試(shi)軟(ruan)件(jian)即可(ke)


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